超越系列折光率仪-R4

梅特勒-托利多  R4

我们直观的超越系列折光率仪专为多种应用而开发，胜任几乎任何样品的准确测量。仪器具有优良的准确度与重复性，并可通过以下方案进一步增强性能：
• 适用于各类样品（包括高粘度样品）的功能强大的自动进样器
• 同时测定折光率、密度、pH 值/电导率与色度
• 符合 21 CFR Part 11 法规要求的 LabX 电脑软件
• 多种选配件
不仅仅是折光率仪
节省时间与提高数据质量：超越系列折光率仪可升级为集折光率、密度、pH、色度、滴定等于一身的多参数自动测量系统，可防止在单次分析之间样品发生变化，提高处理量和自动完成工作流程，同时确保每次以相同方式执行所有步骤。

测量范围：1.3200 -1.7000
重复性（S.D.n=10）
nD：0.00005
Brix[%w/w]：0.05
准确性
nD：0.0001
Brix[%w/w]：0.01
温度范围[℃]：5-100
温度准确性[℃]：0.1
典型测量时间：15秒